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对外服务

北大EDA | 半导体测试建模与分析服务

发布时间：2024-09-09

北大EDA研究院半导体量测技术中心目前配备了各种先进的测试仪器，包括高低温探针台（如 Cascade CM300xi）、高精度/超快半导体参数分析仪、矢量网络分析仪及先进的噪声分析系统。这些高端设备能够提供从分立器件到复杂芯片的全面测试分析，满足集成电路前沿研究对高精度和高可靠性的严格要求。

综合量测能力

Testkey设计

・传统Testkey设计

・RF Testkey设计

・高通量Testkey设计

器件形式

・CMOS器件

・BCD器件

・RF器件

・III-V化合物器件

・后摩尔器件：铁电、RRAM

・……

测试方式

・手动

・半自动

・全自动mapping

温度范围

・-60°C ~+300°C

元器件类型

・模拟芯片

・功率芯片

・射频芯片

・光电芯片

・存储芯片

・……

测试类型

・DC测试

・AC测试

・RF测试

・1/f noise测试

・RTN测试

・Transient/Pulse测试实验

・EM/SM/TDDB/HCI/BTI应力实验

半导体量测技术中心专注于各类电子元器件的研究，包括但不限于CMOS器件、DRAM器件、Flash器件、GaN和SiC等宽禁带半导体器件、MEMS器件、半导体激光器和光电探测器等。实验室致力于器件建模与失效机理研究、失效分析新技术、可靠性测试与寿命评估，以及可靠性模拟仿真与应用验证等工作。

我们还具有广泛的测试能力，技术涵盖传统硅基器件至第三代半导体功率器件、高压至低压测试、高温至超低温测试、超高速至超高精度测试等各类需求，提供从器件到模块的一站式、全方位的特性测试、表征和建模服务。

半导体量测技术中心的优势

设施先进

拥有超大面积的高标准屏蔽间，配备国内外一流品牌的设备和仪器。

团队专业

依托北京大学、上海交通大学的专家资源，结合半导体行业资深工程师的丰富经验。

经验丰富

专注于先进工艺器件量测技术以及模型开发。

04 覆盖广泛

涵盖CMOS器件、DRAM器件、Flash器件、GaN、SiC等宽禁带微波和功率半导体器件、MEMS器件、半导体激光器、光电探测器等各类电子元器件。

半导体量测技术中心实验室不仅具备尖端设备和专业团队，还专注于科研成果的转化与应用。近年来，在集成电路模型开发和参数提取方面，实验室积累了丰富的经验，能够为集成电路企业提供量测-建模一站式服务，涵盖PDK开发与验证、SPICE模型开发及参数提取、可靠性模型开发与参数提取，以及噪声建模分析等多个方面。

我们的愿景是成为半导体量测领域的领军技术中心，推动相关技术的进步。通过独特的测试方式，加速器件与电路的评估认证，并提供高通量的测试服务。我们诚挚欢迎各界朋友和同行专家莅临指导，共同探索集成电路领域的无限可能！

联系我们

atmc@pkueda.org.cn